Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

To chci

Uloženo v:

Podrobná bibliografie

Další autoři:
Joseph Goldstein, 1939- , David C. Joy, 1943- , Joseph R. Michael , Dale E. Newbury , Nicholas W. M. Ritchie , John Henry J. Scott
Typ dokumentu:
Knihy
Rozsah:
xxiii, 550 stran
Vydáno:
New York : Springer : 2018
Vydání:
Fourth edition
Témata:
Fyzický popis:
xxiii, 550 stran
ISBN:
978-1-4939-6674-5

:


Jednotky

Nápověda
Pro vytváření rezervací/objednávek je třeba se přihlásit.
Dostupnost Stav Oddělení Sbírka Umístění Více informací Signatura
Načítá se…
Geologický ústav AV ČR, v. v. i. - Sekce vědeckých informací a knihovna
M11514
Načítá se…
Fyziologický ústav AV ČR, v. v. i. - Středisko vědeckých informací
A 3249
Načítá se…
Vysoká škola chemicko-technologická v Praze - Centrum informačních služeb
Načítá se…
Česká zemědělská univerzita v Praze - Knihovna ČZU
Načítá se…
Národní památkový ústav - Knihovna
C4833
Načítá se…
Ústav fyziky materiálu AV ČR, v. v. i. - Knihovna Brno
C 2236
Načítá se…
Vysoké učení technické v Brně - Ústřední knihovna
Načítá se…
Masarykova univerzita - Knihovna univerzitního kampusu - Chemicko-biologická sbírka PřF MU

Podobné